IEC 60747-5-3 AMD 1-2002 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电子器件.测量方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-16 08:52:33  浏览:8685   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Discretesemiconductordevicesandintegratedcircuits-Part5-3:Optoelectronicdevices;Measuringmethods;Amendment1
【原文标准名称】:半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电子器件.测量方法
【标准号】:IEC60747-5-3AMD1-2002
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2002-03
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47E
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:测量技术;集成电路;显示装置;半导体器件;电子设备及元件;光电子器件;分立器件
【英文主题词】:Bandwidths;Darkcurrent;Diodes;Discretedevices;Displaydevices;Electricalpropertiesandphenomena;Electronicequipmentandcomponents;Insulatingresistance;Insulationtest;Integratedcircuits;Luminousintensity;Measuringtechniques;Optoelectronicdevices;Photocouplers;Photodiodes;Radiantintensity;Semiconductordevices;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L54
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:25P.;A4
【正文语种】:英语